[20a-D3-1~11] 14.1 探索的材料物性

[20a-D3-5] KFM法によるSb-doped BaSi₂薄膜表面の粒界ポテンシャル評価

^○塚原大地¹，馬場正和¹，髙部涼太¹，都甲薫¹，渡辺健太郎¹，原康介²，宇佐美徳隆^2,3，末益崇^1,3 (筑波大院数理物質科学¹，名大²，ＪＳＴ－ＣＲＥＳＴ³)

キーワード：粒界,シリサイド,KFM