[20a-F12-1~13] 13.4 デバイス/集積化技術

[20a-F12-13] 相補型原子スイッチのOFF時電圧ストレス耐性

^○伴野直樹，多田宗弘，阪本利司，宮村信，岡本浩一郎，井口憲幸，野久竜彦，波田博光 (LEAP)

キーワード：原子スイッチ,抵抗変化素子,不揮発