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一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.6 イオンビーム一般

[14p-4E-1~21] 7.6 イオンビーム一般

2015年9月14日(月) 12:30 〜 18:15 4E (437)

座長:阿保智(阪大),瀬木利夫(京大),柳沢淳一(滋賀県立大)

△：奨励賞エントリー
▲：英語発表
▼：奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄：どちらもなし

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12:30 〜 12:45

△ [14p-4E-1] イオンビーム照射によるc軸平行極性反転構造ZnO薄膜の形成

〇森剛志¹、鈴木雅視²、柳谷隆彦² (1.名工大、2.早稲田大)

12:45 〜 13:00

[14p-4E-2] イオン液体イオンビームにより形成したC-N薄膜の基板温度依存性

〇星出優輝¹、竹内光明¹、龍頭啓允¹、高岡義寛¹ (1.京大工)

13:00 〜 13:15

[14p-4E-3] C₂H₆-GCIB照射によるグラフェン状薄膜の低温形成

〇中山大地¹、豊田紀章¹、山田公¹、馬場弘真¹ (1.兵県大院工)

13:15 〜 13:30

[14p-4E-4] ガスクラスターイオンビームによる有機材料エッチングにおけるUV光照射効果

〇日野浦諒¹、豊田紀章¹、山田公¹ (1.兵県大院工)

13:30 〜 13:45

[14p-4E-5] ガスクラスターイオンビーム照射によるPEEKの表面改質

〇魚住裕樹¹、豊田紀章¹、山田公¹ (1.兵県大院工)

13:45 〜 14:00

[14p-4E-6] ClF₃中性クラスタービームによる斜めエッチング

〇瀬木利夫¹、山本洋揮²、古澤孝弘²、吉野裕³、妹尾武彦³、小池国彦³、青木学聡¹、松尾二郎¹ (1.京大院工、2.阪大産研、3.岩谷産業)

14:00 〜 14:15

[14p-4E-7] シリコンおよび窒化シリコン膜表面への低エネルギーガリウムイオン照射効果

〇山田将司¹、松井祐斗¹、山田逸成¹、柳沢淳一¹ (1.滋賀県立大工)

休憩 (14:15 〜 14:30)

14:30 〜 14:45

△ [14p-4E-8] イオンビームによる担体改質が白金ナノ微粒子触媒に及ぼす影響

〇(M2)木全哲也¹、加藤翔¹、八巻徹也²、山本春也²、箱田照幸²、小林知洋³、寺井隆幸¹ (1.東大院工、2.原子力機構、3.理研)

14:45 〜 15:00

[14p-4E-9] イオン注入された石英ガラスの光学特性とイオン注入量モニターへの応用

〇田中修平¹、上野芳子¹、吉田寿美江¹、松田耕自²、永山勉²、井内裕² (1.ﾆｭｰｶﾞﾗｽﾌｫｰﾗﾑつくば研、2.日新ｲｵﾝ機器)

15:00 〜 15:15

[14p-4E-10] 簡便な3次元線量分布計測を目的としたガラス線量計素子の製作と荷電粒子応答評価

〇松原良典¹、川端駿介^1,2、Parajuli Raj Kumar¹、加田渉¹、酒井真理¹、三浦健太¹、佐藤隆博²、江夏昌志²、山田尚人²、神谷富裕²、花泉修¹ (1.群馬大、2.原子力機構)

15:15 〜 15:30

[14p-4E-11] イオンマイクロビーム誘起発光分析による自作ガラス線量計素子の評価

〇川端駿介^1,2、加田渉¹、松原良典¹、三浦健太¹、佐藤隆博²、江夏昌志²、山田尚人²、神谷富裕²、花泉修¹ (1.群馬大学、2.原子力機構)

15:30 〜 15:45

[14p-4E-12] 大気取り出し陽子マイクロビームプローブによる有機物試料からのイオン誘起発光分光スペクトルの連続測定

〇加田渉¹、佐藤隆博²、川端駿介^1,2、江夏昌志²、山田尚人²、横山彰人^1,2、神谷富裕²、三浦健太¹、花泉修¹ (1.群馬大、2.原子力機構)

15:45 〜 16:00

[14p-4E-13] Ne⁺ビームを用いた金属表面上水素の高感度検出

〇(PC)光原圭¹、山本安一¹、城戸義明² (1.立命館大SRセ、2.立命館大理工)

16:00 〜 16:15

[14p-4E-14] シングルイベント三次元TOF-RBS の時間分解能評価(III)

〇阿保智¹、濱田靖久¹、Seidl Albert^1,2、若家冨士男¹、阿部真之¹、高井幹夫¹ (1.阪大院基礎工、2.マクデブルグステンダル応用科学大)

休憩 (16:15 〜 16:30)

16:30 〜 16:45

[14p-4E-15] ナノ突起構造体の電界電離Heイオン電流に及ぼす影響

〇永井滋一¹、加藤習¹、岩田達夫¹、梶原和夫¹、畑浩一¹ (1.三重大院工)

16:45 〜 17:00

△ [14p-4E-16] 電界蒸発による軽元素イオンの分析に向けた直線形飛行時間分析装置の開発

〇羽路祐紀¹、曽根輔¹、辻博司¹、後藤康仁¹ (1.京大院工)

17:00 〜 17:15

[14p-4E-17] TOF-MSに荷電変換・エネルギー分析系を併用した多価イオンの検出

〇辻博司¹、津留雄¹、後藤康仁¹ (1.京大院工)

17:15 〜 17:30

[14p-4E-18] 低真空クラスターSIMS分析に向けた基礎研究

〇鈴木敢士¹、草刈将一¹、藤井麻樹子¹、瀬木利夫¹、青木学聡¹、松尾二郎¹ (1.京大院工)

17:30 〜 17:45

[14p-4E-19] TOF-SIMSを用いた高温環境下におけるSi-Al界面の観察

〇渡邉騎通¹、間宮広明¹、阿部冨士雄²、大久保雅隆³、北澤英明¹ (1.物材機構量子ビーム、2.物材機構材料信頼性評価、3.産総研エレクトロニクス・製造領域)

17:45 〜 18:00

[14p-4E-20] 凝縮固体表面における昇温TOF-SIMS

〇鈴木拓¹、坂口勲¹ (1.物材機構)

18:00 〜 18:15

[14p-4E-21] 急速凍結TOF-SIMS分析法の開発とエアロゾル中の揮発性物質の分析

〇森田真人¹、金成啓太¹、大石乾詞¹、坂本哲夫¹ (1.工学院大)

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