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[14a-2B-6] RF-MBE法によるGaAs(100)基板上へのユーロピウム添加立方晶GaN薄膜の作製(2)
キーワード:立方晶GaN、希土類添加
RF-MBE法によるGaAs(100)基板上へのEu添加立方晶GaN薄膜(c-GaN:Eu)の作製を行った。X線回折測定より立方晶GaNの成長が確認され、RHEED観察により立方晶GaNのスポットパターンが得られた。PL測定より、Eu3+の発光が見られた。ただし母体からの発光も見られた。PL強度増加を目的にc-GaN:Euの結晶性改善を試みた。RHEED観察においてストリークパターンが得られた。