The 76th JSAP Autumn Meeting, 2015

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Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.3 Oxide electronics

[14p-2H-1~15] 6.3 Oxide electronics

Mon. Sep 14, 2015 1:45 PM - 5:45 PM 2H (222)

座長:吉松 公平(東工大),打田 正輝(東大)

2:45 PM - 3:00 PM

[14p-2H-5] Electrical- and magneto-conductive properties in Fe3O4 thin films on thermally oxidized Si substrates produced by rapid thermal deoxidation method

〇Akihisa Fujita1, Hiromi Kobori1, Atsushi Yamasaki1, Toshifumi Taniguchi2, Tetsuo Shimizu3 (1.Konan Univ, 2.Osaka Univ, 3.AIST)

Keywords:magnetite,magnetoregistance,rapid thermal deoxidation method

酸素反応性スパッタリング法を用いて、Feターゲットから熱酸化Si基板上にヘマタイト薄膜を作製した。作製したヘマタイトを、赤外光ファネスを用いて、Ar(90%)/H2(10%)ガス雰囲気中で急速熱処理還元し、マグネタイト薄膜を作製した。また、XRD測定により試料の同定と最適熱処理時間の決定をした。さらに、表面形状を調べるために、AFM測定を行った。He冷凍機を用いて、5K~300Kの温度範囲で抵抗率および磁気抵抗の温度依存性を調べた。