2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

16 非晶質・微結晶 » 16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

[14p-2R-1~16] 16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

2015年9月14日(月) 13:45 〜 18:00 2R (231-2)

座長:前田 幸治(宮崎大),内野 隆司(神戸大),正井 博和(京大)

16:45 〜 17:00

[14p-2R-12] ガス浮遊炉を用いて作製したSiO2ガラスの構造

〇正井 博和1、小原 真司2、是枝 聡肇3、藤井 康裕3、尾原 幸治4 (1.京大化研、2.物材研、3.立命館大、4.JASRI)

キーワード:シリカガラス、浮遊法、構造解析

近年、浮遊炉を用いて作製された酸化物ガラスにおける興味深い研究が多数報告されている。一方で、浮遊炉で作製して得られるガラス球は、比較的早い冷却速度でガラス化するが、実際には界面近傍と内部とで冷却速度が異なる、つまり、仮想温度やネットワーク構造が異なることが示唆されている。本研究では主として、浮遊炉を用いて作製されたSiO2球に対して、非弾性光散乱と高エネルギーX線回折におけるFirst sharp diffraction peak (FSDP)に注目して解析・議論をおこなう。