The 76th JSAP Autumn Meeting, 2015

Presentation information

Oral presentation

7 Beam Technology and Nanofabrication » 7.6 Ion beams

[14p-4E-1~21] 7.6 Ion beams

Mon. Sep 14, 2015 12:30 PM - 6:15 PM 4E (437)

座長:阿保 智(阪大),瀬木 利夫(京大),柳沢 淳一(滋賀県立大)

4:45 PM - 5:00 PM

[14p-4E-16] Development of Time-of-flight mass spectrometer for light element ions produced by field evaporation

〇Yuki Haneji1, Tasuku Sone1, Hiroshi Tsuji1, Yasuhito Gotoh1 (1.Kyoto Univ.)

Keywords:Time-of-flight,Field evaporation,TOF mass spectrometer

アトムプローブにおける軽元素の電離機構解明に向けて飛行時間形質量分析 (TOF) 装置の製作に着手し、電界蒸発したWイオンのTOF 測定を試みた。電界蒸発イオンの検出に先立ち、電界電離Arイオンを今回製作した TOF装置 により分析し、飛行時間が理論値とほぼ一致することを確認した。続いてWの電界蒸発イオンのTOF測定を行い、W4+と考えられるイオンを検出した。