The 76th JSAP Autumn Meeting, 2015

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Oral presentation

8 Plasma Electronics » 8.2 Plasma measurements and diagnostics

[15a-2V-1~10] 8.2 Plasma measurements and diagnostics

Tue. Sep 15, 2015 9:00 AM - 11:30 AM 2V (234-1(South))

座長:佐々木 浩一(北大)

11:00 AM - 11:15 AM

[15a-2V-9] Development of a measurement system of ionic charge, electron density, and electron temperature for high-Z Soft X-ray light source plasmas

〇Kentarou Tomita1, Yuta Sato1, Nima Bolouki1, Toshiaki Eguchi1, Syoichi Tsukiyama1, Kiichiro Uchino1 (1.Kyushu Univ.)

Keywords:Thomson scattering,EUV

レーザー生成プラズマ方式は、低コストで軟X線光を生成可能である。我々はレーザー生成EUV光源用プラズマの電子密度・電子温度・イオン温度の同時計測を、協同的トムソン散乱法で進めてきた。さらなる計測の充実を図るため、現在は、イオン項計測に加え、電子項を同時に取得することを目指している。