PDF ダウンロード スケジュール 24 いいね! 1 16:15 〜 16:30 [15p-1A-10] ミラー電子顕微鏡,低エネルギーSEMによる4H-SiC基底面転位像観察 〇一色 俊之1、生頼 義久2、佐藤 高広2 (1.京工繊大、2.日立ハイテク) キーワード:ミラー電子顕微鏡、欠陥評価、基底面転位