2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[15p-2N-1~17] 12.2 評価・基礎物性

6.6と12.2のコードシェアセッションあり

2015年9月15日(火) 14:00 〜 18:30 2N (224-2(北側))

座長:真島 豊(東工大),山田 洋一(筑波大)

16:30 〜 16:45

[15p-2N-10] [講演奨励賞受賞記念講演] 負イオン光電子分光で見た極性分子膜における負イオンの蓄積

〇金城 拓海1、Lim Hyunsoo1、山﨑 純暉1、佐藤 友哉1、大澤 祐介1、中光 栄仁1、Thanh Luan Nguyen1、浦上 裕希1、野口 裕2、中山 泰生3、石井 久夫1,4 (1.千葉大院融合、2.明治大理工、3.東理大理工、4.千葉大先進)

キーワード:有機半導体、表面電位、電子親和力

有機ELは非対称・極性分子を用いたアモルファス膜が用いられることが多い.このような極性分子の蒸着膜では分子が緩やかに配向する配向分極によって巨大表面電位が発現している.このような分極膜に光が照射されると表面近傍に表面電位を打ち消すように光キャリアが異符号のイオンとして蓄積する.我々は超高感度光電子計測により蓄積した負イオンのイオン化エネルギー(中性分子の電子親和力) を実測することに成功した.