2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[15p-2R-1~22] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2015年9月15日(火) 13:30 〜 19:15 2R (231-2)

座長:立岡 浩一(静岡大),鵜殿 治彦(茨城大)

17:45 〜 18:00

[15p-2R-17] アルカリ金属フッ化物処理によるBaSi2薄膜の電気特性制御

〇原 康祐1,2、Du Weijie3、有元 圭介1、山中 淳二1、中川 清和1、都甲 薫3、末益 崇2,3、宇佐美 徳隆2,4 (1.山梨大クリスタル研、2.JST-CREST、3.筑波大院数理物質、4.名大院工)

キーワード:シリサイド半導体、不純物ドーピング、アルカリ金属

BaSi2薄膜の電気特性制御を目的として、アルカリ金属フッ化物の蒸着と熱処理を用いたアルカリ金属ドーピングについて調査を行った。LiF処理では、400 ˚C以上の熱処理により電子密度が最大で1020 cm−3まで増大する一方、NaF、KF処理ではキャリア密度の変化は小さかった。薄膜構造評価の結果より、BaSi2とLiFの反応によりLiがBaSi2中にドープされ、ドナーとして働いている可能性が高いことが分かった。