[15p-2W-1~23] 2.2 検出器開発

△ [15p-2W-19] 比例モードSi-APDを用いたX線シンチレーション検出器の開発(3)

〇井上 圭介¹、岸本 俊二^2,3 (1.総研大、2.高エネ研、3.物構研)

キーワード：シリコン・アバランシェ・フォトダイオード、放射光、サブナノ秒時間分光

受光素子として比例モードSi-APDを用いたシンチレーション検出器によって比例モードSi-APDに匹敵する高速特性と高エネルギーX線に対する十分な検出効率を両立する検出器の開発を目指し、プロトタイプ検出器による実験を行った。動作温度20℃、0℃、-20℃,-35℃の条件において67.4 keVの放射光パルスX線により波高分布と時間スペクトルを取得した。より低い温度でS/Nが向上したAPDの動作条件での測定が可能となり、時間分解能は向上した。