[16p-1G-1~13] 12.4 Organic light-emitting devices and organic transistors

[16p-1G-12] Gate-Modulation Imaging of Distributed Device Performance for Large-Area Organic Thin-Film Transistor Arrays

〇Junya Tsutsumi¹, Satoshi Matsuoka¹, Katsuo Fukuhara¹, Toshikazu Yamada¹, Tatsuo Hasegawa^1,2 (1.AIST, 2.U.Tokyo)

Keywords:Active backplane,Organic thin-film transistor,Collective inspection technique

我々は、数百万個もの膨大な数のトランジスタから構成されるアクティブバックプレーンについて、ディスプレイの輝度むらや表示速度低下に影響する素子性能（移動度・応答速度）の分布を一括検査可能なゲート変調イメージング（GMI）法の開発を進めている。今回、測定範囲の大面積化と測定時間の短縮化に取り組み、一括評価可能な素子数の大幅な向上を達成したので報告する。