[11a-A27-1~13] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

△ [11a-A27-9] 二光子吸収過程を用いたレーザーによるソフトエラーシミュレーションの再現性

〇井辻 宏章^{1, 2}、小林 大輔^{1, 2}、廣瀬 和之^{1, 2} (1.東大院工, 2.JAXA宇宙研)

キーワード：ソフトエラー、二光子吸収、半導体