[13p-B4-1~9] 15.6 IV族系化合物

[13p-B4-8] I-V特性から見たSiC-MOSFETストレス劣化の特徴

〇村上 英一¹、清水 宥喜¹、米村 望努¹、原 陽平¹ (1.九産大工)

キーワード：SiC-MOSFET、NBTI、FNストレス劣化