望月敏光

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発表者・著者、共著者

2016年9月15日(木) 13:45 〜 17:30 B2 (展示ホール内)

一般セッション(口頭講演)
| 13 半導体
| 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[15p-B2-1~14] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

15:30 〜 15:45

[15p-B2-8] 内部量子効率マッピングによるPERC裏面の評価

〇望月敏光¹、Supawan Joonwichien¹、白澤勝彦¹、高遠秀尚¹ (1.産総研)