16:30 〜 17:00
[13p-A32-6] 二次元超薄膜への可逆的非破壊・接触面積制御電気コンタクト
キーワード:プローブ、電気特性測定、極薄膜
極薄膜やグラフェンなどの二次元物質に、試料を破壊せずに電気コンタクトを形成して、電気特性を測定することができるプローブを開発したので報告する。開発済みのコネクターを介して市販のプローバ―を使用した電気特性測定が可能である。
シンポジウム(口頭講演)
シンポジウム » 薄膜・表面分野で活躍する女性研究者
16:30 〜 17:00
キーワード:プローブ、電気特性測定、極薄膜