[13p-B5-1~15] 12.2 評価・基礎物性

△ [13p-B5-7] 塗布法によるフタロシアニン配向薄膜の作製および微小角入射広角X線散乱による結晶構造解析

〇(DC)大森 雅志¹、宇野 貴志¹、中野 知佳¹、藤井 彰彦¹、尾崎 雅則¹ (1.阪大院工)

キーワード：薄膜、単結晶、X線構造解析

フタロシアニン誘導体1,4,8,11,15,18,22,25-octahexylphthalocyanine(C6PcH₂)は一軸性の高いキャリア移動度を示すことが報告されており、電子デバイス材料として期待されている。本研究では溶液プロセスであるバーコート法を用いて、一様なC6PcH₂配向薄膜を作製することに成功した。また、配向薄膜を回転させながら微小角入射広角X線散乱(GIWAXS: Grazing Incidence Wide-Angle X-ray Scattering)法による解析を行うことにより、三次元的に配向薄膜中の結晶構造を解析し、単結晶構造との比較を行った。