[13p-C31-1~11] 7.1 X-ray technologies

△ [13p-C31-9] Energy-resolved X-ray Phase Contrast Imaging using Amplitude Grating and Pixel Detector

〇(M1)Ryo Hosono¹, Issei Sano¹, Tomoki Kawabata², Kiyoshi Hayashida², Takahiro Doki³, Takuji Hosoi¹, Heiji Watanabe¹, Takayoshi Shimura¹ (1.Grad. Sch. of Eng., Osaka Univ., 2.Grad. Sch. of Sci., Osaka Univ., 3.SHIMADZU Co.)

Keywords:x-ray phase contrast imaging, amplitude grating, pixel detector

X線Talbot–Lau干渉計は位相格子の干渉像（自己像）を用いる位相イメージング法であるが、前回我々は振幅格子の影絵（投影像）を用いる手法を報告した。本手法ではX線エネルギーに依存せずに全長を自由に設定できる。一方、各素子がエネルギー分解能を有する２次元ピクセル検出器の開発が進んでおり、今回はX線天文学用に研究されているSOI（Silicon-On-Insulator）技術を利用したX線用SOIピクセル検出器（XRPIX)の本手法への適用を検討したので報告する。