09:00 〜 09:30
[14a-B13-1] [優秀論文賞受賞記念講演] Charge pumping current from single Si/SiO2 interface traps: Direct observation of Pb centers and fundamental trap-counting by the charge pumping method
キーワード:優秀論文賞
一般セッション(口頭講演)
13 半導体 » 13.5 デバイス/集積化技術
2016年9月14日(水) 09:00 〜 12:15 B13 (展示控室5A-5B)
若林 整(東工大)
09:00 〜 09:30
キーワード:優秀論文賞