[14p-A32-1~16] 6.6 Probe Microscopy

[14p-A32-12] AFM simulation for ionic crystal surface

〇Yasuhiro Senda¹, Janne Blomqvist², Risto Nieminen² (1.Yamaguchi Univ., 2.Aalto Univ.)

Keywords:atomic force microscopy, molecular dynamics, energy dissipation

非接触モードの原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscopy，AFM ）では，
試料表面とカンチレバー先端間の原子間力により，カンチレバーの振動が減衰する。
この振動減衰のメカニズムは未だ明らかではない．
分子動力学法とバネのモデルを組み合わせたAFMの計算モデルを用いて、
イオン系物質表面でのAFMのエネルギー減衰の仕組みを解明する。
従来から提案されている減衰のメカニズムを検証するとともに，
分散力による減衰のメカニズムと比較する．