[14p-A32-1~16] 6.6 Probe Microscopy

[14p-A32-2] Development of multiple-probe AFM/KFM working in SEM and potential mapping of network structures

〇Yoshitaka Shingaya¹, Rintaro Higuchi¹, Qiao Li^1,2, Ming Li¹, Tomonobu Nakayama^1,2 (1.WPI-MANA/NIMS, 2.Univ. Tsukuba)

Keywords:multiple-probe, atomic force microscope, network structure

種々のナノ材料を組み合わせて構築したナノシステムの電気伝導特性を調べるために４プローブAFMを開発した。４本のプローブ中の任意の１本をKFMプローブとして用いることができ、ポテンシャル分布計測が可能になっている。この装置を用いて単層、二層グラフェンおよびポリアニリンネットワークのポテンシャル分布計測を行った。