2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[14p-B5-1~12] 12.2 評価・基礎物性

2016年9月14日(水) 13:45 〜 17:00 B5 (展示ホール内)

大塚 洋一(阪大)、中山 泰生(東理大)

15:00 〜 15:15

[14p-B5-6] 二次イオン質量分析を用いた封止材中の水分拡散評価

中村 立1、秋山 毅1、宮本 隆志1、鮫島 純一郎1、中川 善嗣1 (1.東レリサーチセンター)

キーワード:水、封止、二次イオン質量分析

本発表では中空封止ガラスの封止材中を拡散するD2Oについて、二次イオン質量分析(SIMS)を用いて膜面内分布を評価することで水分の拡散挙動を明らかにすることを試みた。