16:00 〜 18:00
[14p-P17-2] X線光電子分光法(HAXPESおよびGCIB-XPS)を用いたリチウムイオン二次電池正極における活物質表面および内部の分析(2)
キーワード:X線光電子分光法、深さ方向分析、リチウムイオン二次電池
一般セッション(ポスター講演)
7 ビーム応用 » 7.6 原子・分子線およびビーム関連新技術
2016年9月14日(水) 16:00 〜 18:00 P17 (展示ホール)
16:00 〜 18:00
キーワード:X線光電子分光法、深さ方向分析、リチウムイオン二次電池