2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[15a-C32-1~12] 3.8 光計測技術・機器

2016年9月15日(木) 09:00 〜 12:15 C32 (日航3階孔雀CD)

野村 孝徳(和歌山大)、稲場 肇(産総研)

11:15 〜 11:30

[15a-C32-9] 4検出器型偏光計の入射角依存性と補正方法の検討

高和 研利1、渋谷 猛久1、若木 守明1、高和 宏行2 (1.東海大工、2.ユニオプト)

キーワード:偏光、4検出器型偏光計、校正

透過型の4検出器型偏光計(T-FDP)はビームスプリッター(BS)の反射・透過による偏光状態の変化を利用している。BSに対する入射角度が変化すると、BSの反射・透過特性から光の偏光状態が変化することとなり計測誤差の原因となる。そこで、T-FDPへの入射角の変化による特性行列への影響を調べたところ、角度に対する各要素の変化が見られた。これを補正する方法として、特性行列を入射角の関数として表わした。