The 77th JSAP Autumn Meeting, 2016

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.1 Fundamental properties, surface and interface, and simulations of Si related materials

[15p-B2-1~14] 13.1 Fundamental properties, surface and interface, and simulations of Si related materials

Thu. Sep 15, 2016 1:45 PM - 5:30 PM B2 (Exhibition Hall)

Nobuya Mori(Osaka Univ.), Takashi Hasunuma(Univ. of Tsukuba)

3:30 PM - 3:45 PM

[15p-B2-8] Evaluation of Rear Surfaces of PERC Solar Cells with IQE Mapping

Toshimitsu Mochizuki1, Joonwichien Supawan1, Katsuhiko Shirasawa1, Hidetaka Takato1 (1.AIST)

Keywords:Crystalline Silicon, Solar Cells, PERC Cells

PERCセルを始めとした特殊な裏面構造のプロセスの最適化のために、分光感度と全反射率を同一座標系でマッピング可能な内部量子効率測定装置で、適切な励起条件を選択することでPERCセルの裏面側のパッシベーションの品質を可視化する手段を確立した。低品質のPERCセルではAl-BSF領域よりAlOx領域の量子効率が低く、Voidも散見されたが、高品質のセルではAlOx領域での高い量子効率が得られた。