2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.3 絶縁膜技術

[15p-B9-1~17] 13.3 絶縁膜技術

2016年9月15日(木) 13:15 〜 17:45 B9 (展示ホール内)

手塚 勉(東芝)、知京 豊裕(物材機構)

14:15 〜 14:30

[15p-B9-5] 液相堆積法による(Ba, Sr)TiO3の堆積条件検討

〇(M2)國光 俊作1、羽路 伸夫1 (1.横国大院工)

キーワード:液相堆積法、誘電体薄膜、チタン酸バリウムストロンチウム

DRAMやFeRAMなどの高誘電体を利用した高速メモリのために,液相堆積(LPD)法による誘電体材料の生成方法が検討されている。(Ba,Sr)TiO3はBaとSrの含有比によって強誘電性から常誘電性へ変わる物質であり,その基本構成物SrTiO3の堆積条件を参考にして(Ba,Sr)TiO3のLPD堆積を行った。これにより,非常に残留分極の小さい薄膜が得られると同時に,溶液濃度によって薄膜のヒステリシスループに変化が生じた。