2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.8 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

[16a-B1-1~13] 13.8 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

2016年9月16日(金) 09:00 〜 12:30 B1 (展示ホール内)

佐藤 威友(北大)

12:00 〜 12:15

[16a-B1-12] 高感度電子線ホログラフィーによるGaN/AlGaN界面に形成された2次元電子ガス層の可視化

山本 和生1 (1.ファインセラミックスセンター)

キーワード:窒化物半導体、電子ガス、電子線ホログラフィー

高性能かつ高信頼性を有する次世代GaNデバイスを開発するには,GaN/AlGaNなどヘテロ界面に形成される2次元電子ガス層やホールガス層を直接評価することが必須である.今回我々は,高感度電子線ホログラフィーを用いて,ナノメートル領域に形成される2次元電子ガス層を極めてクリアに可視化することに成功したので報告する.