[16p-C32-1~9] 3.8 光計測技術・機器

[16p-C32-4] FPGAを用いた高効率光電子パルス列同時検出方式蛍光寿命計

〇(D)水野 孝彦¹、多賀 貴規¹、岩田 哲郎¹ (1.徳島大院)

キーワード：光検出法、蛍光寿命計、光子計数法

1回の試料励起に対して複数個の光子検出が可能な光電子パルス列同時検出法に基づく蛍光寿命計をFPGAベースで試作した．現状の仕様は，分解時間2.0 ns，測定時間範囲128.0 ns (64 channel)，ヒストグラム生成のための装置の不感時間は零である．したがって，測定の繰返し周波数の上限は測定時間範囲で決まる．装置の性能評価実験として，10 ppm硫酸キニーネ-0.1N硫酸溶液の蛍光減衰波形を測定した．