09:15 〜 09:30 [21a-H101-2] ウェット酸化により形成したSiO2/4H-SiCの電子状態評価 (II) 〇渡辺 浩成1、大田 晃生1、藤村 信幸1、牧原 克典1、宮崎 誠一1 (1.名古屋大学)