10:15 〜 10:30
〇穀山 渉1、大久保 章1、和田 雅人1、中村 圭佑1、稲場 肇1 (1.産総研 計量標準)
穀山 渉
発表者・著者、共著者
2016年3月21日(月) 09:00 〜 11:45 H116 (本館)
- 一般セッション(口頭講演)
- | 3 光・フォトニクス
- | 3.8 光計測技術・機器
2016年3月21日(月) 09:00 〜 11:45 H116 (本館)
10:15 〜 10:30
〇穀山 渉1、大久保 章1、和田 雅人1、中村 圭佑1、稲場 肇1 (1.産総研 計量標準)