09:30 〜 11:30 [21a-P6-1] テラヘルツ時間領域分光法を用いた反射測定による誘電体基板材料の積層構造測定 〇(M1)東島 侑矢1、長 敬三1、久保田 貴之1、水津 光司1、須藤 博樹1、中林 寛暁1 (1.千葉工大工)