2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[19a-S223-1~13] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2016年3月19日(土) 09:00 〜 12:30 S223 (南2号館)

森 伸也(阪大)

11:15 〜 11:30

[19a-S223-9] 横型Tunnel FET の閾値状態の定義についての考察

森 義暁1、佐藤 伸吾1、大村 泰久1 (1.関西大)

キーワード:トンネルFET、閾値電圧、普遍的な定義

本報告では、デバイスシミュレータを用いて横型 TFET の閾値状態の定義を検討した結果を述べる。閾値状態を規格化相互コンダクタンス値が最大値をとるゲート電圧として定義できることを見出した。閾値状態では、ソース接合面全域にわたって、所定のトンネルキャリアが存在していることが示された。また、この定義が、実際に想定されるデバイスパラメータの範囲で適用できることも示すことができた。