2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

16 非晶質・微結晶 » 16.3 シリコン系太陽電池

[19a-W321-1~12] 16.3 シリコン系太陽電池

2016年3月19日(土) 09:00 〜 12:15 W321 (西2・3号館)

小出 直城(シャープ)

10:30 〜 10:45

[19a-W321-7] 電圧誘起劣化した太陽電池モジュールのレーザー加熱による回復

吉田 弘樹1、志知 拓弥1、イン マング マング1、大橋 史隆1、増田 淳2、野々村 修一1 (1.岐大工、2.産総研)

キーワード:電圧誘起劣化

PID(Potential Induced Degradation)現象とは、高温・多湿・高電圧にさらされた太陽電池パネルに見られる劣化現象である。PID現象とカバーガラスからのNa拡散に注目した加速試験やXPS組成分析がされている。登壇者らは太陽電池パネルにおけるPID劣化したセルを回復させるため、太陽電池モジュールのレーザーおよびLED加熱をし、その回復を確認した。