[19p-H137-1~17] 7.1 X-ray technologies

△ [19p-H137-8] X-ray Phase Contrast Imaging using Micro Focus X-ray Source and Amplitude Grating

〇(B)Ryo Hosono¹, Naoki Morimoto¹, Yasuhiro Ito¹, Amane Yamazaki¹, Issei Sano¹, Takahiro Doki², Satoshi Sano², Takuji Hosoi¹, Heiji Watanabe¹, Takayoshi Shimura¹ (1.Osaka Univ., 2.SHIMADZU Co.)

Keywords:x-ray phase contrast imaging,amplitude grating,micro focus x-ray source

X線Talbot–Lau干渉計は位相格子を用いてX 線の位相シフトを計測する手法である。一方、加工技術の向上により、高アスペクト比の構造を持った振幅格子が作製できるようになってきた。そこで今回は位相格子ではなく振幅格子を用いた光学系についてその有用性を検討した。本光学系では全長を自由に設定することができ、実際に既存のマイクロフォーカスX線源と組み合わせることで、簡便に位相微分像を取得することに成功した。