The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

Presentation information

Oral presentation

7 Beam Technology and Nanofabrication » 7.1 X-ray technologies

[19p-H137-1~17] 7.1 X-ray technologies

Sat. Mar 19, 2016 1:15 PM - 5:45 PM H137 (H)

Akira Sasaki(JAEA), Takeo Ejima(Tohoku Univ.)

3:30 PM - 3:45 PM

[19p-H137-9] Grating scattered light overlapping with monochromatized soft X-ray at BL-11D, PF

Tadashi Hatano1, Shogaku Aihara1, Takeo Ejima1 (1.IMRAM, Tohoku Univ.)

Keywords:monochromator,EUV,soft X-ray

光学素子評価ビームラインであるPFのBL-11DではC薄膜の透過率測定でK吸収領域に有限のバックグラウンドが観測されており、回折格子の高次光ではない何らかの不純物成分の存在がわかっている。多層膜ミラーおよび回折格子を試料に用いた分光実験の結果、不純物成分は分光器の回折格子で散乱される120–180 eVの極端紫外線であると特定した。