[19p-P11-1~14] 12.2 Characterization and Materials Physics

[19p-P11-8] Microscopic measurement of growth process of DNTT molecular layer on Ag(110) surface

〇Yuri Hasegawa¹, Yoichi Yamada¹, Takuya Hosokai², Yutaka Wakayama³, Masahiro Sasaki¹ (1.Univ. of Tsukuba, 2.AIST, 3.NIMS WPI-MANA)

Keywords:DNTT,crystalline thin film of organic semiconductor,diffusion of molecule

有機分子薄膜の電子物性制御には分子レベルの精確な積層技術が要求される。本研究では、結晶性の良好なDNTT分子と異方性の大きいAg(110)表面を組み合わせ、分子の拡散方向を制御することで層状成長を誘起し、良質な積層膜の作製に成功した。このとき、原子配列に沿った方向に単層の再構成が起こり、その後layer-by-layer様に成長することがわかった。このような一次元配列を有する積層膜ではバルクと異なる電子構造が形成されていることも期待できる。