[19p-P11-1~14] 12.2 Characterization and Materials Physics

[19p-P11-7] Observation of electronic potential in organic thin film transistor during transistor operation by bias applied - hard X-ray photoemission spectroscopy Ⅱ

〇TAKESHI WATANABE¹, Keisuke Tada², Satoshi Yasuno¹, Noriyuki Yoshimoto², Ichiro Hirosawa¹ (1.JASRI, 2.Iwate Univ.)

Keywords:organic semiconductor,Hard X-ray photoemission spectroscopy

バイアス印加硬X線光電子分光(BA-HAXPES)法を用いて、OTFT動作中での有機膜内部の電位を観察した。今回は、ゲート電圧とソース・ドレイン電圧を系統的に変化させることで、OTFT動作中に形成される有機膜内部の電位分布の詳細な検討を行った。