The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

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Symposium

Symposium » Blazing frontier of luminescence imaging for characterization of semiconductor crystals and devices

[19p-S011-1~11] Blazing frontier of luminescence imaging for characterization of semiconductor crystals and devices

Sat. Mar 19, 2016 1:30 PM - 5:45 PM S011 (S0)

Yasuaki Ishikawa(NAIST), Ryuji Katayama(Tohoku Univ.), Hiroshi Yano(Univ. of Tsukuba)

1:30 PM - 1:45 PM

[19p-S011-1] What found through the luminescence imaging

Kentaro Kutsukake1 (1.IMR, Tohoku Univ.)

Keywords:luminescence,imaging,semiconductor

本シンポジウムは、材料・デバイスごとに独自の進化を遂げてきた発光イメージングという評価法について、互いの研究成果を共有し、新しい研究展開のきっかけを作ることを目的に企画しました。イントロダクトリートークでは、発光イメージングの原理を簡単に説明した後、本シンポジウムのきっかけとして、「発光イメージング」という視点で評価法を括ったときに何が見えるのかを議論したいと思います。