The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

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Symposium

Symposium » Blazing frontier of luminescence imaging for characterization of semiconductor crystals and devices

[19p-S011-1~11] Blazing frontier of luminescence imaging for characterization of semiconductor crystals and devices

Sat. Mar 19, 2016 1:30 PM - 5:45 PM S011 (S0)

Yasuaki Ishikawa(NAIST), Ryuji Katayama(Tohoku Univ.), Hiroshi Yano(Univ. of Tsukuba)

1:45 PM - 2:15 PM

[19p-S011-2] Basics and Applications of Absolute Electroluminescence Imaging of Solar Cells

Hidefumi Akiyama1 (1.ISSP Univ. Tokyo)

Keywords:solar cell,eletroluminescence,imaging

太陽電池の絶対エレクトロルミネッセンス(EL)画像計測を行い、セルに電圧プローブを当てることなく、絶対EL画像から直接に内部電圧を評価できる方法を開発した。さらに、太陽電池の外部量子効率(EQE)データと基礎物理関係式にもとづく定式化・解析を用いることで、内部電圧(開放電圧およびI-V関係)、内部材料品質、ルミネッセンスカプリング、セル内の損失の内訳分析など、豊富な診断が可能になる。