2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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シンポジウム(口頭講演)

シンポジウム » 発光イメージングが切り拓く半導体結晶・デバイス評価の明るい未来

[19p-S011-1~11] 発光イメージングが切り拓く半導体結晶・デバイス評価の明るい未来

2016年3月19日(土) 13:30 〜 17:45 S011 (南講義棟)

石河 泰明(奈良先端大)、片山 竜二(東北大)、矢野 裕司(筑波大)

17:15 〜 17:45

[19p-S011-11] Nanoprobe-CL法による半導体ナノ結晶の顕微物性評価

渡辺 健太郎1,2 (1.阪大院基礎工、2.物材機構)

キーワード:半導体、自立ナノ結晶、カソードルミネッセンス