2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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シンポジウム(口頭講演)

シンポジウム » 発光イメージングが切り拓く半導体結晶・デバイス評価の明るい未来

[19p-S011-1~11] 発光イメージングが切り拓く半導体結晶・デバイス評価の明るい未来

2016年3月19日(土) 13:30 〜 17:45 S011 (南講義棟)

石河 泰明(奈良先端大)、片山 竜二(東北大)、矢野 裕司(筑波大)

13:45 〜 14:15

[19p-S011-2] 太陽電池の絶対エレクトロルミネッセンス画像計測法と応用

秋山 英文1 (1.東大物性研)

キーワード:太陽電池、エレクトロルミネッセンス、画像計測

太陽電池の絶対エレクトロルミネッセンス(EL)画像計測を行い、セルに電圧プローブを当てることなく、絶対EL画像から直接に内部電圧を評価できる方法を開発した。さらに、太陽電池の外部量子効率(EQE)データと基礎物理関係式にもとづく定式化・解析を用いることで、内部電圧(開放電圧およびI-V関係)、内部材料品質、ルミネッセンスカプリング、セル内の損失の内訳分析など、豊富な診断が可能になる。