2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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シンポジウム(口頭講演)

シンポジウム » 発光イメージングが切り拓く半導体結晶・デバイス評価の明るい未来

[19p-S011-1~11] 発光イメージングが切り拓く半導体結晶・デバイス評価の明るい未来

2016年3月19日(土) 13:30 〜 17:45 S011 (南講義棟)

石河 泰明(奈良先端大)、片山 竜二(東北大)、矢野 裕司(筑波大)

14:30 〜 15:00

[19p-S011-4] フォトルミネッセンス・マッピング法によるCIGS太陽電池の評価

白方 祥1 (1.愛媛大工)

キーワード:フォトルミネッセンス、CIGS太陽電池、マッピング測定

CIGS太陽電池のヘテロ接合のフォトルミネッセンス(PL)が励起光による光起電力に敏感であることに注目して、PLマッピング法による太陽電池面内の 光起電力分布の評価を行った。例としてレーザアシスト蒸着による光照射効果、ライトソーキング効果、欠陥準位のマッピング、セルプロセスの評価、Naバリ アの光起電力の均質性に与える効果などを考察した。