2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.8 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[20a-H113-1~12] 15.8 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2016年3月20日(日) 09:30 〜 12:45 H113 (本館)

沓掛 健太朗(東北大)、永井 勇太(グローバルウェーハズ・ジャパン)

10:45 〜 11:00

[20a-H113-6] n型ドーパント近傍におけるSi空孔クラスターの安定性に関する第一原理計算

河合 宏樹1、中崎 靖1、金村 貴永2 (1.東芝研開セ、2.東芝S&S)

キーワード:空孔、不純物、第一原理計算

Si結晶中の空孔二量体V2と不純物X(=P, As)の複合体XV2の分解反応について、第一原理計算によって調べた。計算の結果、V放出に至る活性化障壁はほぼ等しいが、PV2では準安定構造VPV'を経由した二段階反応により見掛けの障壁が低下するのに対して、AsV2では準安定構造がなく活性化障壁を一段階で超える必要がある、という違いが見られた。以上より、Asドープは空孔クラスターをより安定化しクラスターの多量体化を促すことが示唆された。