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一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[20p-H116-1~21] 3.8 光計測技術・機器

2016年3月20日(日) 13:15 〜 18:45 H116 (本館)

安井武史(徳島大)、崔森悦(新潟大)

14:00 〜 14:15

[20p-H116-4] Si-APD二光子吸収応答による距離計測－変調信号の位相掃引による短時間高精度計測

〇(M1)山田祥規¹、根本昌弥¹、田中洋介¹、黒川隆志¹ (1.農工大工)

キーワード：距離計測、二光子吸収応答

　　　