2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.5 イオンビーム一般

[20p-H137-1~15] 7.5 イオンビーム一般

2016年3月20日(日) 13:15 〜 17:15 H137 (本館)

種村 眞幸(名工大)、豊田 紀章(兵庫県立大)

14:15 〜 14:30

[20p-H137-5] 飛行時間型質量分析計に搭載した真空型帯電液滴ビーム銃による二次イオンの測定

二宮 啓1、境 悠治2、十河 真生3、宮山 卓也3、坂井 大輔3、渡邉 勝己3、チェン リーチュイン1、平岡 賢三2 (1.山梨大総合、2.山梨大クリーン、3.アルバック・ファイ)

キーワード:クラスターイオンビーム、エレクトロスプレー、二次イオン質量分析

我々はこれまで帯電液滴ビームの輝度やビーム径を改善するため、通常は大気圧下で行う水溶液のエレクトロスプレーを真空下で行い、それをイオンビームのソースとして利用するための技術開発を行ってきた。今回は試作した真空型帯電液滴ビーム銃を飛行時間型二次イオン質量分析計に設置し、実際に二次イオン測定を行ってどの程度二次イオンの生成効率を向上できるかについて評価する。