2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.3 絶縁膜技術

[20p-S221-1~17] 13.3 絶縁膜技術

2016年3月20日(日) 13:45 〜 18:15 S221 (南2号館)

渡邉 孝信(早大)、舟窪 浩(東工大)

15:15 〜 15:30

[20p-S221-7] Al2O3/SiO2界面のダイポール層の繰り返し構造を利用した大きなフラットバンド電圧シフト(>1 V)

鎌田 啓伸1、喜多 浩之1 (1.東大院工)

キーワード:絶縁膜、High-k、ダイポール

一部の堆積ゲート絶縁膜では堆積膜/SiO2界面にダイポール層が形成され​、フラットバンド電圧(Vfb)のシフトをもたらす。このようなダイポール層をつくる界面を繰り返し積層することでダイポール効果を重ね合わせることができれば、大きなVfbシフトの制御が可能であると期待できる。そこで本研究では、複数のAl2O3/SiO2界面を積層し、ダイポール層の重ね合わせによるMOSキャパシタのVfbの大きなシフトを実証することを目的とした。