2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[21a-H116-1~11] 3.8 光計測技術・機器

2016年3月21日(月) 09:00 〜 11:45 H116 (本館)

大谷 幸利(宇都宮大)

10:15 〜 10:30

[21a-H116-6] 光周波数領域における時系列の位相雑音計測

穀山 渉1、大久保 章1、和田 雅人1、中村 圭佑1、稲場 肇1 (1.産総研 計量標準)

キーワード:位相雑音、デジタル信号処理、光周波数メトロロジー

周期的信号の時系列の位相情報は、アラン分散等の算出だけでなく過渡応答も解析可能となるため、光周波数メトロロジーをはじめとした多くの光周波数分野における位相雑音の評価・解析に役立つ。我々は、広いダイナミックレンジを持つ新方式デジタル位相計測法を、位相同期された光コムのCEO信号に適用することで、時系列の位相雑音を0.1 Hzから10 MHzの広帯域で計測し、本計測法の有効性を確認した。