2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[21p-P15-1~23] 3.8 光計測技術・機器

2016年3月21日(月) 16:00 〜 18:00 P15 (屋内運動場)

16:00 〜 18:00

[21p-P15-7] TNセルのシア特性と微分干渉観察応用の検討

石坂 尚聖1、本間 道則1、伊東 良太1、岡野 圭樹2、藤田 直子2、村田 純2、村口 元2、尾崎 紀昭2、能勢 敏明1 (1.秋田県大システム、2.秋田県大応用生物)

キーワード:液晶、微分干渉観察、チューナブルDICシステム

微分干渉(DIC)観察は生体細胞のような弱位相サンプルに強力なツールである。このときキーとなる素子であるDICプリズムは,一般にたいへん高価で,シアリング距離は固定されている。DICプリズムとして液晶セルを使う事によって,電子的な調整ができる構造が簡単なDICシステムが期待される。本研究では,DICプリズムとして利用しようと考えているTNセルにおける横方向のシアリング特性について詳しい検討を行った。