2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[21p-S223-1~17] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2016年3月21日(月) 13:30 〜 18:00 S223 (南2号館)

山口 憲司(原子力機構)、原 康祐(山梨大)

16:30 〜 16:45

[21p-S223-12] ネオンイオンを注入したシリコンのアニールによる構造変化

羽渕 仁恵1、北川 淳嗣1、園原 康介1、飯田 民夫1、大橋 史隆2、伴 隆幸2、久米 徹二2、野々村 修一2 (1.岐阜高専、2.岐阜大工)

キーワード:Siクラスレート

アモルファスSiと希ガスの混合物のアニールにより、希ガスをゲストとするSiクラスレートの合成が理論的には可能である。我々は、イオン打ち込み法により合成した希ガス混合Siのアニールを行っている。今までXeイオンを注入したSiをアニールすることでクラスレート化を狙ったが、成功していない。本発表では、Neイオンを注入したSiを用いてアニールを行なったのでその結果について報告する。